Конфокальный профилометр Leica DCM8

Точность анализа поверхностей – важный фактор, который может сыграть решающую роль в промышленных или научных исследованиях и разработках. Качественное исследование позволяет рассчитать оптимальные характеристики используемых элементов. В то же время существует ряд сложностей, с которыми приходится сталкиваться при проведении обследования поверхности: сложноструктурированные объекты, имеющие покатые области или небольшие, визуально неразличимые неровности, могут потребовать от оборудования горизонтального или вертикального разрешения.

Оптическая система Leica DCM8 предназначена для исследования топографии в конфокальном и интерферометрическом режимах, и обеспечивает возможность построения на исследуемых поверхностях моделей в двух- и трехмерной плоскости. Оборудование также оптимально подходит для выявления отклонений уровня и в микроэлектронике – с вертикальным разрешением до 1 нм.

Цифровой микроскоп используется с моторизованными осями X, Y, Z и антивибрационным столиком. Применение технологии конфокального измерения позволяет в сжатые сроки провести профилометрию сложных неоднородных поверхностей, в том числе имеющих отклонение от горизонта до 70°, сохраняя при этом образец в первозданном виде.

Купить Leica DCM8 не представляет особой сложности. Если вас интересует цена, дополнительные опции или технические подробности – обращайтесь к специалистам нашей компании, которые подскажут всю необходимую информацию и помогут сделать правильный выбор.