Инспекционный микроскоп Leica DM3 XL

Инспекционный микроскоп DM3 XL оснащается датчиком контроля освещенности, срабатывающим при смене режима работы, и обеспечивает поле зрения в 37,5 мм. Это простой и надежный инструмент для быстрого инспектирования полупроводниковых образцов, купить который по выгодным ценам можно в нашей компании.

Наличие осветительной лампы на светодиодах позволяет равномерно распределить подаваемое освещение, сохраняя цветовую температуру. Световая система позволяет использовать режим отраженного и проходящего света, используемого в измерениях двойного лучепреломления. Комбинируя осветительные режимы, можно добиться оптимальных результатов.

Оснащенный мотором столик для сканирования обладает большим ходовым диапазоном, и позволяет размещать образцы, диаметр которых доходит до 150 мм. Для более точного анализа топографии материала используется режим подачи освещения под углом.

Характеристики оптической системы, которой оснащен микроскоп, позволяют увеличивать изображение в масштабах х7-х1500. Апертурная диафрагма с цветным кодированием обеспечивает простоту подбора оптимальных настроек для используемого объектива. Широкий выбор методов контрастирования гарантирует возможность проведения точечного исследования и получения достоверных результатов.